Full characterization of laser-accelerated ion beams using Faraday cup, silicon carbide, and single-crystal diamond detectors

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F11%3A00364302" target="_blank" >RIV/68378271:_____/11:00364302 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/61389021:_____/11:00364302

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.3585871" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.3585871</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.3585871" target="_blank" >10.1063/1.3585871</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Full characterization of laser-accelerated ion beams using Faraday cup, silicon carbide, and single-crystal diamond detectors

Popis výsledku v původním jazyce

Real-time ion diagnostics have been performed by the use of various time-of-flight (TOF) detectors: ion collectors (ICs) with and without absorber thin films, new prototypes of single-crystal diamond and silicon carbide detectors, and an electrostatic ion mass spectrometer (IEA). In order to suppress the long photopeak induced by soft X-rays and to avoid the overlap with the signal from ultrafast particles, the ICs have been shielded with Al foil filters. The application of large-bandgap semiconductor detectors (>3 eV) ensured cutting of the plasma-emitted visible and soft-UV radiation and enhancing the sensitivity to the very fast proton/ion beams. Employing the IEA spectrometer, various ion species and charge states in the expanding laser-plasma havebeen determined.

Název v anglickém jazyce

Full characterization of laser-accelerated ion beams using Faraday cup, silicon carbide, and single-crystal diamond detectors

Popis výsledku anglicky

Real-time ion diagnostics have been performed by the use of various time-of-flight (TOF) detectors: ion collectors (ICs) with and without absorber thin films, new prototypes of single-crystal diamond and silicon carbide detectors, and an electrostatic ion mass spectrometer (IEA). In order to suppress the long photopeak induced by soft X-rays and to avoid the overlap with the signal from ultrafast particles, the ICs have been shielded with Al foil filters. The application of large-bandgap semiconductor detectors (>3 eV) ensured cutting of the plasma-emitted visible and soft-UV radiation and enhancing the sensitivity to the very fast proton/ion beams. Employing the IEA spectrometer, various ion species and charge states in the expanding laser-plasma havebeen determined.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BH - Optika, masery a lasery

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Journal of Applied Physics

ISSN

0021-8979

e-ISSN

—

Svazek periodika

109

Číslo periodika v rámci svazku

10

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

"103302/1"-"103302/8"

Kód UT WoS článku

000292115900043

EID výsledku v databázi Scopus

—