Terahertz and infrared studies of antiferroelectric phase transition in multiferroic Bi0.85Nd0.15FeO3.
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F11%3A00367281" target="_blank" >RIV/68378271:_____/11:00367281 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.3650241" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.3650241</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.3650241" target="_blank" >10.1063/1.3650241</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Terahertz and infrared studies of antiferroelectric phase transition in multiferroic Bi0.85Nd0.15FeO3.
Popis výsledku v původním jazyce
High-frequency dielectric studies of Bi0.85Nd0.15FeO3 ceramics performed betweeen 100 and 900 K reveal hardening of most polar phonons on cooling below antiferroelectric phase transition, which occurs near 600 K. Moreover, a strong THz dielectric relaxation is seen in paraelectric phase. Its relaxation frequency softens on cooling towards TC = 600 K, its dielectric strength simultaneously decreases, and finally the relaxation disappears from the spectra below 450 K. Both phonon and dielectric relaxationbehavior are responsible for a decrease in the dielectric permittivity at the antiferroelectric phase transition. Origin of unusual strong THz dielectric relaxation in paraelectric phase is discussed.
Název v anglickém jazyce
Terahertz and infrared studies of antiferroelectric phase transition in multiferroic Bi0.85Nd0.15FeO3.
Popis výsledku anglicky
High-frequency dielectric studies of Bi0.85Nd0.15FeO3 ceramics performed betweeen 100 and 900 K reveal hardening of most polar phonons on cooling below antiferroelectric phase transition, which occurs near 600 K. Moreover, a strong THz dielectric relaxation is seen in paraelectric phase. Its relaxation frequency softens on cooling towards TC = 600 K, its dielectric strength simultaneously decreases, and finally the relaxation disappears from the spectra below 450 K. Both phonon and dielectric relaxationbehavior are responsible for a decrease in the dielectric permittivity at the antiferroelectric phase transition. Origin of unusual strong THz dielectric relaxation in paraelectric phase is discussed.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2011
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Journal of Applied Physics
ISSN
0021-8979
e-ISSN
—
Svazek periodika
110
Číslo periodika v rámci svazku
7
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
"074112/1"-"074112/5"
Kód UT WoS článku
000295883000092
EID výsledku v databázi Scopus
—