Charged micro-patterns on nanocrystalline diamond are well defined by electrical current application

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F12%3A00390085" target="_blank" >RIV/68378271:_____/12:00390085 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Charged micro-patterns on nanocrystalline diamond are well defined by electrical current application

Popis výsledku v původním jazyce

We apply atomic force microscope for local electrostatic charging of oxygen-terminated nanocrystalline diamond (NCD) thin films deposited on silicon by regulated electrical current application. The NCD films have sub-100 nm thickness and 60% relative sp2phase content. The charge is injected by constant current application. Induced electrical potential contrast is then evaluated by Kelvin Force Microscopy (KFM) which shows welldefined homogeneous features and a sub-linear increase of surface potential with increase in electrical current. We suggest limitation by field-induced detrapping.

Název v anglickém jazyce

Charged micro-patterns on nanocrystalline diamond are well defined by electrical current application

Popis výsledku anglicky

We apply atomic force microscope for local electrostatic charging of oxygen-terminated nanocrystalline diamond (NCD) thin films deposited on silicon by regulated electrical current application. The NCD films have sub-100 nm thickness and 60% relative sp2phase content. The charge is injected by constant current application. Induced electrical potential contrast is then evaluated by Kelvin Force Microscopy (KFM) which shows welldefined homogeneous features and a sub-linear increase of surface potential with increase in electrical current. We suggest limitation by field-induced detrapping.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Acta Universitatis Carolinae. Mathematica et Physica

ISSN

0001-7140

e-ISSN

—

Svazek periodika

53

Číslo periodika v rámci svazku

2

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

61-67

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—