Laser profiling of defects in BaWO4 crystals

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F12%3A00390713" target="_blank" >RIV/68378271:_____/12:00390713 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/23/8/087001" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/23/8/087001</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0957-0233/23/8/087001" target="_blank" >10.1088/0957-0233/23/8/087001</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Laser profiling of defects in BaWO4 crystals

Popis výsledku v původním jazyce

Optical inhomogeneities due to fluctuations in the index of refraction and scattering centres in four BaWO4 single crystals were measured by detecting the scattered light perpendicular to the incident laser beam. The depth profiling was achieved by moving the crystal along the laser beam and collecting the scattered light through a partly closed aperture. We have observed the region of the highest scattering from the beginning of the crystal to a depth of approximately 1 cm corresponding to the early stages of the crystal growth. Deeper inside in the crystal the concentration of the inhomogeneities is constant. The scattering in this region of relatively low defect density varies by less than one order of magnitude depending on crystal quality.

Název v anglickém jazyce

Laser profiling of defects in BaWO4 crystals

Popis výsledku anglicky

Optical inhomogeneities due to fluctuations in the index of refraction and scattering centres in four BaWO4 single crystals were measured by detecting the scattered light perpendicular to the incident laser beam. The depth profiling was achieved by moving the crystal along the laser beam and collecting the scattered light through a partly closed aperture. We have observed the region of the highest scattering from the beginning of the crystal to a depth of approximately 1 cm corresponding to the early stages of the crystal growth. Deeper inside in the crystal the concentration of the inhomogeneities is constant. The scattering in this region of relatively low defect density varies by less than one order of magnitude depending on crystal quality.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2012

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Measurement Science and Technology

ISSN

0957-0233

e-ISSN

—

Svazek periodika

23

Číslo periodika v rámci svazku

8

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

1-4

Kód UT WoS článku

000306366600061

EID výsledku v databázi Scopus

—