Photoluminescence and excited state structure in Bi3+-doped Y2SiO5 single crystalline films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F13%3A00396533" target="_blank" >RIV/68378271:_____/13:00396533 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.radmeas.2013.04.001" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.radmeas.2013.04.001</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.radmeas.2013.04.001" target="_blank" >10.1016/j.radmeas.2013.04.001</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Photoluminescence and excited state structure in Bi3+-doped Y2SiO5 single crystalline films
Popis výsledku v původním jazyce
Single crystallinefilms of Bi-doped Y2SiO5 are studied at 4.2-350 K by the time-resolved luminescence methods under excitation in the 3.8-6.2 eV energy range. Ultraviolet luminescence of Y2SiO5:Bi (3.6 eV) is shown to arise from the radiative decay of the metastable and radiative minima of the triplet relaxed excited state (RES) of Bi3+ centers which are related to the 3P0 and 3P1 levels of a free Bi3+ ion, respectively. The lowest-energy excitation band of this emission, located at 4.5 eV, is assignedto the 1S0 3P1 transitions of a free Bi3+ ion. The phenomenological model is proposed to describe the excitedstate dynamics of Bi3+ centers in Y2SiO5:Bi, and parameters of the triplet RES are determined.
Název v anglickém jazyce
Photoluminescence and excited state structure in Bi3+-doped Y2SiO5 single crystalline films
Popis výsledku anglicky
Single crystallinefilms of Bi-doped Y2SiO5 are studied at 4.2-350 K by the time-resolved luminescence methods under excitation in the 3.8-6.2 eV energy range. Ultraviolet luminescence of Y2SiO5:Bi (3.6 eV) is shown to arise from the radiative decay of the metastable and radiative minima of the triplet relaxed excited state (RES) of Bi3+ centers which are related to the 3P0 and 3P1 levels of a free Bi3+ ion, respectively. The lowest-energy excitation band of this emission, located at 4.5 eV, is assignedto the 1S0 3P1 transitions of a free Bi3+ ion. The phenomenological model is proposed to describe the excitedstate dynamics of Bi3+ centers in Y2SiO5:Bi, and parameters of the triplet RES are determined.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BH - Optika, masery a lasery
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GAP204%2F12%2F0805" target="_blank" >GAP204/12/0805: Pokročilá materiálová řešení pro tenkovrstvé scintilátory a transformátory světla</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Radiation Measurements
ISSN
1350-4487
e-ISSN
—
Svazek periodika
56
Číslo periodika v rámci svazku
Sept
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
90-93
Kód UT WoS článku
000325671400021
EID výsledku v databázi Scopus
—