Scintillation characteristics of LiCaAlF6-based single crystals under X-ray excitation
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F13%3A00396555" target="_blank" >RIV/68378271:_____/13:00396555 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68407700:21460/13:00205808
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4803047" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4803047</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4803047" target="_blank" >10.1063/1.4803047</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Scintillation characteristics of LiCaAlF6-based single crystals under X-ray excitation
Popis výsledku v původním jazyce
LiCaAlF6-based scintillators are studied under X- and soft gamma-ray excitations. Under nanosecond pulsed soft X-ray laser excitation the scintillation decay is measured with extremely high dynamical resolution and broad time scale. The undoped LiCaAlF6shows complex temperature dependence of exciton luminescence and tunneling-driven energy transfer process in scintillation decay. In both the Ce and Eu-doped LiCaAlF6 the dominant part of measured scintillation decay is due to prompt recombination of electrons and holes at the doped emission centers. Nevertheless, the measured light yield value is considerably lower with respect to the derived upper limits. Possible origin of its deterioration is discussed.
Název v anglickém jazyce
Scintillation characteristics of LiCaAlF6-based single crystals under X-ray excitation
Popis výsledku anglicky
LiCaAlF6-based scintillators are studied under X- and soft gamma-ray excitations. Under nanosecond pulsed soft X-ray laser excitation the scintillation decay is measured with extremely high dynamical resolution and broad time scale. The undoped LiCaAlF6shows complex temperature dependence of exciton luminescence and tunneling-driven energy transfer process in scintillation decay. In both the Ce and Eu-doped LiCaAlF6 the dominant part of measured scintillation decay is due to prompt recombination of electrons and holes at the doped emission centers. Nevertheless, the measured light yield value is considerably lower with respect to the derived upper limits. Possible origin of its deterioration is discussed.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Physics Letters
ISSN
0003-6951
e-ISSN
—
Svazek periodika
102
Číslo periodika v rámci svazku
16
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
"161907-1"-"161907-4"
Kód UT WoS článku
000318269300029
EID výsledku v databázi Scopus
—