Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Measurement of Young?s modulus and volumetric mass density/thickness of ultrathin films utilizing resonant based mass sensors

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00433721" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00433721 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/104/8/10.1063/1.4866417" target="_blank" >http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/104/8/10.1063/1.4866417</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4866417" target="_blank" >10.1063/1.4866417</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Measurement of Young?s modulus and volumetric mass density/thickness of ultrathin films utilizing resonant based mass sensors

  • Popis výsledku v původním jazyce

    By detecting the resonant frequency shift caused by an attached particle before and after film deposition, the Young?s modulus and either mass density or thickness of a patterned thin film can be determined. Furthermore, for a film characterization, theparticle mass does not need to be known and its attachment position can be either measured or calculated from consecutive resonant frequency shifts: two for bridge and three for cantilever. The applicability of mass sensors in film characterization has been confirmed by comparing predictions with recent experiments.

  • Název v anglickém jazyce

    Measurement of Young?s modulus and volumetric mass density/thickness of ultrathin films utilizing resonant based mass sensors

  • Popis výsledku anglicky

    By detecting the resonant frequency shift caused by an attached particle before and after film deposition, the Young?s modulus and either mass density or thickness of a patterned thin film can be determined. Furthermore, for a film characterization, theparticle mass does not need to be known and its attachment position can be either measured or calculated from consecutive resonant frequency shifts: two for bridge and three for cantilever. The applicability of mass sensors in film characterization has been confirmed by comparing predictions with recent experiments.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JB - Senzory, čidla, měření a regulace

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GAP107%2F12%2F0800" target="_blank" >GAP107/12/0800: Únava aktuátorů z vysokoteplotních slitin s tvarovou pamětí NiTiX /FACT/</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Physics Letters

  • ISSN

    0003-6951

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    104

  • Číslo periodika v rámci svazku

    8

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    "083102-1"-"083102-4"

  • Kód UT WoS článku

    000332619100103

  • EID výsledku v databázi Scopus