Electrical characterization of diamond films deposited in nitrogen and oxygen containing gas mixture
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00436880" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00436880 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Electrical characterization of diamond films deposited in nitrogen and oxygen containing gas mixture
Popis výsledku v původním jazyce
The paper deals with electrical characterization of nanocrystalline diamond / ptype crystalline silicon heterostructures. The diamond films were prepared with and without nitrogen addition into CH4/CO2/H2 gas mixture during the deposition. The introducednitrogen promoted amorphization instead of creating sp2 domains. The structure with nitrogen exhibits shallow donor state with energy of 0.28 eV. It is suggested that origin of such a state is related to nitrogen atoms trapped at the vacancies.
Název v anglickém jazyce
Electrical characterization of diamond films deposited in nitrogen and oxygen containing gas mixture
Popis výsledku anglicky
The paper deals with electrical characterization of nanocrystalline diamond / ptype crystalline silicon heterostructures. The diamond films were prepared with and without nitrogen addition into CH4/CO2/H2 gas mixture during the deposition. The introducednitrogen promoted amorphization instead of creating sp2 domains. The structure with nitrogen exhibits shallow donor state with energy of 0.28 eV. It is suggested that origin of such a state is related to nitrogen atoms trapped at the vacancies.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GBP108%2F12%2FG108" target="_blank" >GBP108/12/G108: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů zářením</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
ASDAM 2014- Conference Proceedings: The 10th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems
ISBN
978-1-4799-5474-2
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
37-40
Název nakladatele
Slovak University of Technology
Místo vydání
Bratislava
Místo konání akce
Smolenice
Datum konání akce
20. 10. 2014
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—