Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Electrical characterization of diamond films deposited in nitrogen and oxygen containing gas mixture

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00436880" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00436880 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Electrical characterization of diamond films deposited in nitrogen and oxygen containing gas mixture

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The paper deals with electrical characterization of nanocrystalline diamond / ptype crystalline silicon heterostructures. The diamond films were prepared with and without nitrogen addition into CH4/CO2/H2 gas mixture during the deposition. The introducednitrogen promoted amorphization instead of creating sp2 domains. The structure with nitrogen exhibits shallow donor state with energy of 0.28 eV. It is suggested that origin of such a state is related to nitrogen atoms trapped at the vacancies.

  • Název v anglickém jazyce

    Electrical characterization of diamond films deposited in nitrogen and oxygen containing gas mixture

  • Popis výsledku anglicky

    The paper deals with electrical characterization of nanocrystalline diamond / ptype crystalline silicon heterostructures. The diamond films were prepared with and without nitrogen addition into CH4/CO2/H2 gas mixture during the deposition. The introducednitrogen promoted amorphization instead of creating sp2 domains. The structure with nitrogen exhibits shallow donor state with energy of 0.28 eV. It is suggested that origin of such a state is related to nitrogen atoms trapped at the vacancies.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GBP108%2F12%2FG108" target="_blank" >GBP108/12/G108: Příprava, modifikace a charakterizace materiálů zářením</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    ASDAM 2014- Conference Proceedings: The 10th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems

  • ISBN

    978-1-4799-5474-2

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    37-40

  • Název nakladatele

    Slovak University of Technology

  • Místo vydání

    Bratislava

  • Místo konání akce

    Smolenice

  • Datum konání akce

    20. 10. 2014

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku