Synthesis and dielectric properties of BaTi1-xZrxO3-based ceramic and film materials
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F14%3A00486509" target="_blank" >RIV/68378271:_____/14:00486509 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ELNANO.2014.6873964" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/ELNANO.2014.6873964</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ELNANO.2014.6873964" target="_blank" >10.1109/ELNANO.2014.6873964</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Synthesis and dielectric properties of BaTi1-xZrxO3-based ceramic and film materials
Popis výsledku v původním jazyce
The process of formation of BZT solid solutions (0.2 ≤ x ≤ 0.5) with perovskite structure has been studied. The phase composition, microstructure and electrophysical properties of BZT ceramic and film materials have been investigated. It has been shown that when zirconium content of ceramic materials is increased, a decrease in permittivity and loss is observed. In this case, the nonlinearity factor retains high values (30-50%) in relatively weak electric fields (30-60 kV/cm). BaTi0.6Zr0.4O3 films have been obtained by solgel method. The dielectric properties of films in the microwavenrange have been investigated.
Název v anglickém jazyce
Synthesis and dielectric properties of BaTi1-xZrxO3-based ceramic and film materials
Popis výsledku anglicky
The process of formation of BZT solid solutions (0.2 ≤ x ≤ 0.5) with perovskite structure has been studied. The phase composition, microstructure and electrophysical properties of BZT ceramic and film materials have been investigated. It has been shown that when zirconium content of ceramic materials is increased, a decrease in permittivity and loss is observed. In this case, the nonlinearity factor retains high values (30-50%) in relatively weak electric fields (30-60 kV/cm). BaTi0.6Zr0.4O3 films have been obtained by solgel method. The dielectric properties of films in the microwavenrange have been investigated.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GAP204%2F12%2F1163" target="_blank" >GAP204/12/1163: Fononová a dielektrická spektroskopie multiferoik</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2014
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
Conference Proceedings of the IEEE 34th International Scientific Conference Electronics and Nanotechnology (ELNANO)
ISBN
978-1-4799-4580-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
IEEE
Místo vydání
Washington D.C.
Místo konání akce
Kyiv
Datum konání akce
15. 4. 2014
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—