Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Fluence thresholds for grazing incidence hard x-ray mirrors

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00449053" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00449053 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4922380" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4922380</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4922380" target="_blank" >10.1063/1.4922380</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Fluence thresholds for grazing incidence hard x-ray mirrors

  • Popis výsledku v původním jazyce

    X-ray Free Electron Lasers (XFEL) have the potential to contribute to many fields of science and to enable many new avenues of research, in large part due to their orders of magnitude higher peak brilliance than existing and future synchrotrons. To bestexploit this peak brilliance, these XFEL beams need to be focused to appropriate spot sizes. However, the survivability of X-ray optical components in these intense, femtosecond radiation conditions is not guaranteed. As mirror optics are routinely usedat XFEL facilities, a physical understanding of the interaction between intense X-ray pulses and grazing incidence X-ray optics is desirable. We conducted single shot damage threshold fluence measurements on grazing incidence X-ray optics, with coatingsof ruthenium and boron carbide, at the SPring-8 Angstrom compact free electron laser facility using 7 and 12 keV photon energies. The damage threshold dose limits were found to be orders of magnitude higher than would naively be expected.

  • Název v anglickém jazyce

    Fluence thresholds for grazing incidence hard x-ray mirrors

  • Popis výsledku anglicky

    X-ray Free Electron Lasers (XFEL) have the potential to contribute to many fields of science and to enable many new avenues of research, in large part due to their orders of magnitude higher peak brilliance than existing and future synchrotrons. To bestexploit this peak brilliance, these XFEL beams need to be focused to appropriate spot sizes. However, the survivability of X-ray optical components in these intense, femtosecond radiation conditions is not guaranteed. As mirror optics are routinely usedat XFEL facilities, a physical understanding of the interaction between intense X-ray pulses and grazing incidence X-ray optics is desirable. We conducted single shot damage threshold fluence measurements on grazing incidence X-ray optics, with coatingsof ruthenium and boron carbide, at the SPring-8 Angstrom compact free electron laser facility using 7 and 12 keV photon energies. The damage threshold dose limits were found to be orders of magnitude higher than would naively be expected.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BH - Optika, masery a lasery

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/GA14-29772S" target="_blank" >GA14-29772S: Nanostrukturování povrchů extrémním ultrafialovým a rentgenovým laserovým zářením</a><br>

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Physics Letters

  • ISSN

    0003-6951

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    106

  • Číslo periodika v rámci svazku

    24

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    "241905-1"-"241905-5"

  • Kód UT WoS článku

    000356618700016

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84934953871