Characterization of sp2-sp3 hybridized carbon composites by Raman and FTIR measurements

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00451062" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00451062 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Characterization of sp2-sp3 hybridized carbon composites by Raman and FTIR measurements

Popis výsledku v původním jazyce

In this contribution we investigate different carbon composites by Raman and Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy measurements. A detailed study of deposition processes, and morphological and chemical properties of the carbon composites are supported and correlated by scanning electron microscopy (SEM) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) measurements. Coexistence of nanocrystalline diamond, which is itself a composite, with graphitic phases from the substrate significantly modulate thecharacter of the Raman spectrum. For such composites, the laser intensity as well as used laser wavelength are crucial parameters which modulate the background signal. In contrast to Raman measurements from sample volume, the XPS technique detects the signal coming only from 10 nm from the sample surface. Due to this limitation the standard XPS technique is not able to investigate the whole sample volume.

Název v anglickém jazyce

Characterization of sp2-sp3 hybridized carbon composites by Raman and FTIR measurements

Popis výsledku anglicky

In this contribution we investigate different carbon composites by Raman and Fourier transform infrared (FTIR) spectroscopy measurements. A detailed study of deposition processes, and morphological and chemical properties of the carbon composites are supported and correlated by scanning electron microscopy (SEM) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) measurements. Coexistence of nanocrystalline diamond, which is itself a composite, with graphitic phases from the substrate significantly modulate thecharacter of the Raman spectrum. For such composites, the laser intensity as well as used laser wavelength are crucial parameters which modulate the background signal. In contrast to Raman measurements from sample volume, the XPS technique detects the signal coming only from 10 nm from the sample surface. Due to this limitation the standard XPS technique is not able to investigate the whole sample volume.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GC15-22102J" target="_blank" >GC15-22102J: Studium kompozitních materiálů na bázi uhlíku s sp2 a sp3 hybridizacemi</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2015

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

ICAVS 8.Abstracts Poster

ISBN

978-3-200-04205-6

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

2

Strana od-do

160-161

Název nakladatele

Vienna University of Technology

Místo vydání

Vienna

Místo konání akce

Vienna

Datum konání akce

12. 7. 2015

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—