Simultaneous nc-AFM/STM measurements with atomic resolution
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F15%3A00456646" target="_blank" >RIV/68378271:_____/15:00456646 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15588-3_3" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15588-3_3</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1007/978-3-319-15588-3_3" target="_blank" >10.1007/978-3-319-15588-3_3</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Simultaneous nc-AFM/STM measurements with atomic resolution
Popis výsledku v původním jazyce
We discuss the history and recent progress of simultaneous AFM/STM measurements with atomic resolution. We demonstrate, that the technique can provide complex information about chemical and physical processes at atomic scale as well as about material properties of surfaces and nanostructures. We briefly overview one of the most fascinating achievements, high-resolution imaging with functionalized tips.
Název v anglickém jazyce
Simultaneous nc-AFM/STM measurements with atomic resolution
Popis výsledku anglicky
We discuss the history and recent progress of simultaneous AFM/STM measurements with atomic resolution. We demonstrate, that the technique can provide complex information about chemical and physical processes at atomic scale as well as about material properties of surfaces and nanostructures. We briefly overview one of the most fascinating achievements, high-resolution imaging with functionalized tips.
Klasifikace
Druh
C - Kapitola v odborné knize
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA14-02079S" target="_blank" >GA14-02079S: Kontrola jednoelektronových nábojových stavů v molekulách na površích</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2015
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název knihy nebo sborníku
Noncontact Atomic Force Microscopy
ISBN
978-3-319-15587-6
Počet stran výsledku
21
Strana od-do
29-49
Počet stran knihy
527
Název nakladatele
Springer International Publishing
Místo vydání
Cham
Kód UT WoS kapitoly
—