Far infrared and terahertz spectroscopy of ferroelectric soft modes in thin films: a review
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F16%3A00468986" target="_blank" >RIV/68378271:_____/16:00468986 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1080/00150193.2016.1216702" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1080/00150193.2016.1216702</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1080/00150193.2016.1216702" target="_blank" >10.1080/00150193.2016.1216702</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Far infrared and terahertz spectroscopy of ferroelectric soft modes in thin films: a review
Popis výsledku v původním jazyce
Far-infrared and terahertz spectroscopy of ferroelectric soft and central modes in thin films on substrates is reviewed. In addition to classical displacive proper ferroelectrics, also incipient and relaxor ferroelectrics and multiferroics are discussed. Special attention is paid to differences between the soft-mode behavior in thin films and bulk materials and their influence on the low-frequency permittivity. Particularly the effects of the thin film strains and depolarizing electric fields of the probing waves on the grain boundaries are emphasized. The soft-mode spectroscopy is shown to be a very sensitive tool to reveal the thin film quality.
Název v anglickém jazyce
Far infrared and terahertz spectroscopy of ferroelectric soft modes in thin films: a review
Popis výsledku anglicky
Far-infrared and terahertz spectroscopy of ferroelectric soft and central modes in thin films on substrates is reviewed. In addition to classical displacive proper ferroelectrics, also incipient and relaxor ferroelectrics and multiferroics are discussed. Special attention is paid to differences between the soft-mode behavior in thin films and bulk materials and their influence on the low-frequency permittivity. Particularly the effects of the thin film strains and depolarizing electric fields of the probing waves on the grain boundaries are emphasized. The soft-mode spectroscopy is shown to be a very sensitive tool to reveal the thin film quality.
Klasifikace
Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
BM - Fyzika pevných látek a magnetismus
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA15-08389S" target="_blank" >GA15-08389S: Dielektrická a fononová spektroskopie multiferoik</a><br>
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2016
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Ferroelectrics
ISSN
0015-0193
e-ISSN
—
Svazek periodika
503
Číslo periodika v rámci svazku
1
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
26
Strana od-do
19-44
Kód UT WoS článku
000388661200007
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-84995572395