Charge-state dynamics in electrostatic force spectroscopy

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F16%3A00470931" target="_blank" >RIV/68378271:_____/16:00470931 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/27/27/274005" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/27/27/274005</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1088/0957-4484/27/27/274005" target="_blank" >10.1088/0957-4484/27/27/274005</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Charge-state dynamics in electrostatic force spectroscopy

Popis výsledku v původním jazyce

We present a numerical model that allows us to study the response of an oscillating probe in electrostatic force spectroscopy to charge switching in quantum dots at various time scales. The model provides more insight into the behavior of frequency shift and dissipated energy under different scanning conditions when measuring a temporarily charged quantum dot on a surface. Namely, we analyze the dependence of the frequency shift, the dissipated energy, and their fluctuations on the resonance frequency of the tip and on the electron tunneling rates across the tip-quantum dot and quantum dot-sample junctions. We discuss two complementary approaches to simulating the charge dynamics, a stochastic and a deterministic one. In addition, we derive analytic formulas valid for small amplitudes, describing relations between the frequency shift, dissipated energy, and the characteristic rates driving the charging and discharging processes.

Název v anglickém jazyce

Charge-state dynamics in electrostatic force spectroscopy

Popis výsledku anglicky

We present a numerical model that allows us to study the response of an oscillating probe in electrostatic force spectroscopy to charge switching in quantum dots at various time scales. The model provides more insight into the behavior of frequency shift and dissipated energy under different scanning conditions when measuring a temporarily charged quantum dot on a surface. Namely, we analyze the dependence of the frequency shift, the dissipated energy, and their fluctuations on the resonance frequency of the tip and on the electron tunneling rates across the tip-quantum dot and quantum dot-sample junctions. We discuss two complementary approaches to simulating the charge dynamics, a stochastic and a deterministic one. In addition, we derive analytic formulas valid for small amplitudes, describing relations between the frequency shift, dissipated energy, and the characteristic rates driving the charging and discharging processes.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

<a href="/cs/project/GA14-02079S" target="_blank" >GA14-02079S: Kontrola jednoelektronových nábojových stavů v molekulách na površích</a><br>

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Nanotechnology

ISSN

0957-4484

e-ISSN

—

Svazek periodika

27

Číslo periodika v rámci svazku

27

Stát vydavatele periodika

GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska

Počet stran výsledku

13

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000377493700005

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-84975037766