Calibration of imaging plates to electrons between 40 and 180 MeV

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F16%3A00488214" target="_blank" >RIV/68378271:_____/16:00488214 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4950860" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1063/1.4950860</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1063/1.4950860" target="_blank" >10.1063/1.4950860</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Calibration of imaging plates to electrons between 40 and 180 MeV

Popis výsledku v původním jazyce

This paper presents the response calibration of Imaging Plates (IPs) for electrons in the 40-180 MeV range using laser-accelerated electrons at Laboratoire d'Optique Appliquee (LOA), Palaiseau, France. In the calibration process, the energy spectrum and charge of electron beams are measured by an independent system composed of a magnetic spectrometer and a Lanex scintillator screen used as a calibrated reference detector. It is possible to insert IPs of different types or stacks of IPs in this spectrometer in order to detect dispersed electrons simultaneously. The response values are inferred from the signal on the IPs, due to an appropriate charge calibration of the reference detector. The effect of thin layers of tungsten in front and/or behind IPs is studied in detail. GEANT4 simulations are used in order to analyze our measurements. Published by AIP Publishing.

Název v anglickém jazyce

Calibration of imaging plates to electrons between 40 and 180 MeV

Popis výsledku anglicky

This paper presents the response calibration of Imaging Plates (IPs) for electrons in the 40-180 MeV range using laser-accelerated electrons at Laboratoire d'Optique Appliquee (LOA), Palaiseau, France. In the calibration process, the energy spectrum and charge of electron beams are measured by an independent system composed of a magnetic spectrometer and a Lanex scintillator screen used as a calibrated reference detector. It is possible to insert IPs of different types or stacks of IPs in this spectrometer in order to detect dispersed electrons simultaneously. The response values are inferred from the signal on the IPs, due to an appropriate charge calibration of the reference detector. The effect of thin layers of tungsten in front and/or behind IPs is studied in detail. GEANT4 simulations are used in order to analyze our measurements. Published by AIP Publishing.

Druh

J_imp - Článek v periodiku v databázi Web of Science

CEP obor

—

OECD FORD obor

10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2016

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Review of Scientific Instruments

ISSN

0034-6748

e-ISSN

—

Svazek periodika

87

Číslo periodika v rámci svazku

5

Stát vydavatele periodika

US - Spojené státy americké

Počet stran výsledku

9

Strana od-do

—

Kód UT WoS článku

000379187600048

EID výsledku v databázi Scopus

2-s2.0-84971268391