In situ monitoring of electrical resistance during deposition of Ag and Al thin films by pulsed laser deposition: comparative study
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F17%3A00478997" target="_blank" >RIV/68378271:_____/17:00478997 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.11.234" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.11.234</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.11.234" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2016.11.234</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
In situ monitoring of electrical resistance during deposition of Ag and Al thin films by pulsed laser deposition: comparative study
Popis výsledku v původním jazyce
In this study, the growth by pulsed laser deposition of thin films of nanometer thickness as well as clusters is presented. Two kinds of metals, namely Ag and Al, are investigated because of their different growth processes on SiO2. We show that by tuning the deposition rate and the background atmosphere, it is easily possible to obtain Ag clusters that exhibit plasmonic resonances at wavelengths shorter than 500 nm. It is further demonstrated that Al tends to perfectly wet the substrate when deposited under vacuum or gas pressure. In situ electrical resistance measurements are used to follow the growth during deposition, and conventional analysis techniques (AFM, SEM, absorption and ellipsometry spectroscopy) are used to control their properties.n
Název v anglickém jazyce
In situ monitoring of electrical resistance during deposition of Ag and Al thin films by pulsed laser deposition: comparative study
Popis výsledku anglicky
In this study, the growth by pulsed laser deposition of thin films of nanometer thickness as well as clusters is presented. Two kinds of metals, namely Ag and Al, are investigated because of their different growth processes on SiO2. We show that by tuning the deposition rate and the background atmosphere, it is easily possible to obtain Ag clusters that exhibit plasmonic resonances at wavelengths shorter than 500 nm. It is further demonstrated that Al tends to perfectly wet the substrate when deposited under vacuum or gas pressure. In situ electrical resistance measurements are used to follow the growth during deposition, and conventional analysis techniques (AFM, SEM, absorption and ellipsometry spectroscopy) are used to control their properties.n
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2017
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Applied Surface Science
ISSN
0169-4332
e-ISSN
—
Svazek periodika
418
Číslo periodika v rámci svazku
Oct
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
5
Strana od-do
517-521
Kód UT WoS článku
000404495500016
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85008162295