Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

In situ monitoring of electrical resistance during deposition of Ag and Al thin films by pulsed laser deposition: comparative study

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F17%3A00478997" target="_blank" >RIV/68378271:_____/17:00478997 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.11.234" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.11.234</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.apsusc.2016.11.234" target="_blank" >10.1016/j.apsusc.2016.11.234</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    In situ monitoring of electrical resistance during deposition of Ag and Al thin films by pulsed laser deposition: comparative study

  • Popis výsledku v původním jazyce

    In this study, the growth by pulsed laser deposition of thin films of nanometer thickness as well as clusters is presented. Two kinds of metals, namely Ag and Al, are investigated because of their different growth processes on SiO2. We show that by tuning the deposition rate and the background atmosphere, it is easily possible to obtain Ag clusters that exhibit plasmonic resonances at wavelengths shorter than 500 nm. It is further demonstrated that Al tends to perfectly wet the substrate when deposited under vacuum or gas pressure. In situ electrical resistance measurements are used to follow the growth during deposition, and conventional analysis techniques (AFM, SEM, absorption and ellipsometry spectroscopy) are used to control their properties.n

  • Název v anglickém jazyce

    In situ monitoring of electrical resistance during deposition of Ag and Al thin films by pulsed laser deposition: comparative study

  • Popis výsledku anglicky

    In this study, the growth by pulsed laser deposition of thin films of nanometer thickness as well as clusters is presented. Two kinds of metals, namely Ag and Al, are investigated because of their different growth processes on SiO2. We show that by tuning the deposition rate and the background atmosphere, it is easily possible to obtain Ag clusters that exhibit plasmonic resonances at wavelengths shorter than 500 nm. It is further demonstrated that Al tends to perfectly wet the substrate when deposited under vacuum or gas pressure. In situ electrical resistance measurements are used to follow the growth during deposition, and conventional analysis techniques (AFM, SEM, absorption and ellipsometry spectroscopy) are used to control their properties.n

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Applied Surface Science

  • ISSN

    0169-4332

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    418

  • Číslo periodika v rámci svazku

    Oct

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    5

  • Strana od-do

    517-521

  • Kód UT WoS článku

    000404495500016

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85008162295