Thickness dependence of the anomalous Nernst effect and the Mott relation of Weyl semimetal Co2MnGa thin films

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F20%3A00535313" target="_blank" >RIV/68378271:_____/20:00535313 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://hdl.handle.net/11104/0313377" target="_blank" >http://hdl.handle.net/11104/0313377</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevB.101.060406" target="_blank" >10.1103/PhysRevB.101.060406</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Thickness dependence of the anomalous Nernst effect and the Mott relation of Weyl semimetal Co2MnGa thin films
Popis výsledku v původním jazyce
We report a robust anomalous Nernst effect in Co2MnGa thin films in the thickness regime between 20 and 50 nm.
Název v anglickém jazyce
Thickness dependence of the anomalous Nernst effect and the Mott relation of Weyl semimetal Co2MnGa thin films
Popis výsledku anglicky
We report a robust anomalous Nernst effect in Co2MnGa thin films in the thickness regime between 20 and 50 nm.

Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2020
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Popis výsledku