Microstructured layered targets for improved laser-induced x-ray backlighters
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F21%3A00561940" target="_blank" >RIV/68378271:_____/21:00561940 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/" target="_blank" >https://doi.org/</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevE.104.065207" target="_blank" >10.1103/PhysRevE.104.065207</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Microstructured layered targets for improved laser-induced x-ray backlighters
Popis výsledku v původním jazyce
We present the usage of two-layer targets with laser-illuminated front-side microstructures for x-ray backlighter applications. The targets consisted of a silicon front layer and copper back side layer. The structured layer was irradiated by the 500-fs PHELIX laser with an intensity above 1020 W cm−2. The total emission andone-dimensional extent of the copper Kα x-ray emission as well as a wide spectral range between 7.9 and 9.0 keV were recorded with an array of crystal spectrometers. The measurements show that the front-side modifications of the silicon in the form of conical microstructures maintain the same peak brightness of the Kα emission as flat copper foils while suppressing the thermal emission background significantly.n
Název v anglickém jazyce
Microstructured layered targets for improved laser-induced x-ray backlighters
Popis výsledku anglicky
We present the usage of two-layer targets with laser-illuminated front-side microstructures for x-ray backlighter applications. The targets consisted of a silicon front layer and copper back side layer. The structured layer was irradiated by the 500-fs PHELIX laser with an intensity above 1020 W cm−2. The total emission andone-dimensional extent of the copper Kα x-ray emission as well as a wide spectral range between 7.9 and 9.0 keV were recorded with an array of crystal spectrometers. The measurements show that the front-side modifications of the silicon in the form of conical microstructures maintain the same peak brightness of the Kα emission as flat copper foils while suppressing the thermal emission background significantly.n
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10305 - Fluids and plasma physics (including surface physics)
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2021
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Physical Review E
ISSN
2470-0045
e-ISSN
2470-0053
Svazek periodika
104
Číslo periodika v rámci svazku
6
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
8
Strana od-do
065207
Kód UT WoS článku
000737308300001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85122368312