Automatic marker-free estimation methods for the axis of rotation in sub-micron X-ray computed tomography

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F23%3A00580354" target="_blank" >RIV/68378271:_____/23:00580354 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/00216305:26620/23:PU146646

Výsledek na webu

<a href="https://hdl.handle.net/11104/0349138" target="_blank" >https://hdl.handle.net/11104/0349138</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.tmater.2022.100002" target="_blank" >10.1016/j.tmater.2022.100002</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Automatic marker-free estimation methods for the axis of rotation in sub-micron X-ray computed tomography

Popis výsledku v původním jazyce

Misalignment of the rotation axis causes severe artifacts in X-ray computed tomography. Calibration of this parameter is often insufficient for sub-micron resolution measurements and needs to be corrected during the post-processing. This correction can be accelerated by various automatic methods. These vary in mechanisms and performance, making them suitable for different use-cases. This work summarizes existing automatic methods for estimating the rotation axis in X-ray computed tomography, with a focus on sub-micron applications. Some of the methods are implemented and compared in the context of a laboratory sub-micron scanner to demonstrate practical considerations of this task.

Název v anglickém jazyce

Automatic marker-free estimation methods for the axis of rotation in sub-micron X-ray computed tomography

Popis výsledku anglicky

Misalignment of the rotation axis causes severe artifacts in X-ray computed tomography. Calibration of this parameter is often insufficient for sub-micron resolution measurements and needs to be corrected during the post-processing. This correction can be accelerated by various automatic methods. These vary in mechanisms and performance, making them suitable for different use-cases. This work summarizes existing automatic methods for estimating the rotation axis in X-ray computed tomography, with a focus on sub-micron applications. Some of the methods are implemented and compared in the context of a laboratory sub-micron scanner to demonstrate practical considerations of this task.

Druh

J_ost - Ostatní články v recenzovaných periodicích

CEP obor

—

OECD FORD obor

10306 - Optics (including laser optics and quantum optics)

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění

2023

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Tomography of Materials and Structures

ISSN

2949-673X

e-ISSN

—

Svazek periodika

1

Číslo periodika v rámci svazku

Mar.

Stát vydavatele periodika

NL - Nizozemsko

Počet stran výsledku

12

Strana od-do

100002

Kód UT WoS článku

—

EID výsledku v databázi Scopus

—