Microstructure and physical properties of black-aluminum antireflective films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F24%3A00585771" target="_blank" >RIV/68378271:_____/24:00585771 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/61389021:_____/24:00585771 RIV/00216208:11320/24:10492030 RIV/60461373:22340/24:43931034
Výsledek na webu
<a href="https://hdl.handle.net/11104/0353450" target="_blank" >https://hdl.handle.net/11104/0353450</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1039/D4RA00396A" target="_blank" >10.1039/D4RA00396A</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Microstructure and physical properties of black-aluminum antireflective films
Popis výsledku v původním jazyce
The microstructure and physical properties of reflective and black aluminum were compared for layers of different thicknesses deposited by magnetron sputtering on fused silica substrates. Reflective Al layers followed the Volmer–Weber growth mechanism classically observed for polycrystalline metal films. On the contrary, the extra nitrogen gas used to deposit the black aluminum layers modified the growth mechanism and changed the film morphologies. Nitrogen cumulated in the grain boundaries, favoring the pinning effect and stopping crystallite growth. High defect concentration, especially vacancies, led to strong columnar growth. Properties reported for black aluminum tend to be promising for sensors and emissivity applications.
Název v anglickém jazyce
Microstructure and physical properties of black-aluminum antireflective films
Popis výsledku anglicky
The microstructure and physical properties of reflective and black aluminum were compared for layers of different thicknesses deposited by magnetron sputtering on fused silica substrates. Reflective Al layers followed the Volmer–Weber growth mechanism classically observed for polycrystalline metal films. On the contrary, the extra nitrogen gas used to deposit the black aluminum layers modified the growth mechanism and changed the film morphologies. Nitrogen cumulated in the grain boundaries, favoring the pinning effect and stopping crystallite growth. High defect concentration, especially vacancies, led to strong columnar growth. Properties reported for black aluminum tend to be promising for sensors and emissivity applications.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2024
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
RSC Advances
ISSN
2046-2069
e-ISSN
2046-2069
Svazek periodika
14
Číslo periodika v rámci svazku
May
Stát vydavatele periodika
GB - Spojené království Velké Británie a Severního Irska
Počet stran výsledku
12
Strana od-do
15220-15231
Kód UT WoS článku
001217905700001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85192932879