Reactive noble-gas compounds explored by 3D electron diffraction: XeF2−MnF4 adducts and a facile sample handling procedure
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F24%3A00598715" target="_blank" >RIV/68378271:_____/24:00598715 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://hdl.handle.net/11104/0356381" target="_blank" >https://hdl.handle.net/11104/0356381</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1021/acscentsci.4c00815" target="_blank" >10.1021/acscentsci.4c00815</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Reactive noble-gas compounds explored by 3D electron diffraction: XeF2−MnF4 adducts and a facile sample handling procedure
Popis výsledku v původním jazyce
Recent advances in 3D electron diffraction (3D ED) have succeeded in matching the capabilities of single-crystal X-ray diffraction (SCXRD), while requiring only submicron crystals for successful structural investigations. One of the many diverse areas to benefit from the 3D ED structural analysis is main-group chemistry, where compounds are often poorly crystalline or single-crystal growth is challenging. A facile method for loading and transferring highly air-sensitive and strongly oxidizing samples at low temperatures to a transmission electron microscope (TEM) for 3D ED analysis was successfully developed and tested on xenon(II) compounds from the XeF2−MnF4 system.
Název v anglickém jazyce
Reactive noble-gas compounds explored by 3D electron diffraction: XeF2−MnF4 adducts and a facile sample handling procedure
Popis výsledku anglicky
Recent advances in 3D electron diffraction (3D ED) have succeeded in matching the capabilities of single-crystal X-ray diffraction (SCXRD), while requiring only submicron crystals for successful structural investigations. One of the many diverse areas to benefit from the 3D ED structural analysis is main-group chemistry, where compounds are often poorly crystalline or single-crystal growth is challenging. A facile method for loading and transferring highly air-sensitive and strongly oxidizing samples at low temperatures to a transmission electron microscope (TEM) for 3D ED analysis was successfully developed and tested on xenon(II) compounds from the XeF2−MnF4 system.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)
Návaznosti výsledku
Projekt
Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)<br>I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace
Ostatní
Rok uplatnění
2024
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
ACS Central Science
ISSN
2374-7943
e-ISSN
2374-7951
Svazek periodika
10
Číslo periodika v rámci svazku
9
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
9
Strana od-do
1733-1741
Kód UT WoS článku
001291839400001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85201427215