Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Laser deposition of Ti:sapphire films on quartz and sapphire and chalcogenide AsS glass films.

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68378271%3A_____%2F99%3AME322C2" target="_blank" >RIV/68378271:_____/99:ME322C2 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Laser deposition of Ti:sapphire films on quartz and sapphire and chalcogenide AsS glass films.

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Waveguiding Ti:sapphire on quartz and chalcogenide glass on fused silica substrates were created by pulse laser deposition. Ti: sapphire films were deposited at 500 oC from 0.48 wt% of Ti2O3. After annealing the high textured films exhibiting attenuation6-7 dBcm-1 were obtained. Inhomogeneity of thickness and refractive index of deposited films were checked by m-line technique. Chalcogenide As40S60 films were deposited at an energy density range from 1.9 J/cm2 to 5.7 J/cm2. It was found that the stoichiometry, optical density in visible spectral region, index of refraction and waveguiding properties of As40S60 films have changed with deposition conditions.

  • Název v anglickém jazyce

    Laser deposition of Ti:sapphire films on quartz and sapphire and chalcogenide AsS glass films.

  • Popis výsledku anglicky

    Waveguiding Ti:sapphire on quartz and chalcogenide glass on fused silica substrates were created by pulse laser deposition. Ti: sapphire films were deposited at 500 oC from 0.48 wt% of Ti2O3. After annealing the high textured films exhibiting attenuation6-7 dBcm-1 were obtained. Inhomogeneity of thickness and refractive index of deposited films were checked by m-line technique. Chalcogenide As40S60 films were deposited at an energy density range from 1.9 J/cm2 to 5.7 J/cm2. It was found that the stoichiometry, optical density in visible spectral region, index of refraction and waveguiding properties of As40S60 films have changed with deposition conditions.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/ME%20322" target="_blank" >ME 322: Studium luminiscenčních vlastností tenkých vrstev pro realizaci mikrolaseru</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    1999

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Superfices y Vacio

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    9

  • Číslo periodika v rámci svazku

    12

  • Stát vydavatele periodika

    MX - Spojené státy mexické

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    316-319

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus