Thin YAG:Ce and LuAG:Ce single crystal imaging plates used for high spatial resolution in X-ray imaging systems

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F09%3A00165798" target="_blank" >RIV/68407700:21220/09:00165798 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68407700:21340/09:00165798

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Thin YAG:Ce and LuAG:Ce single crystal imaging plates used for high spatial resolution in X-ray imaging systems

Popis výsledku v původním jazyce

A high-resolution CCD X-ray camera based on YAG:Ce or LuAG:Ce thin scintillators is presented. The high resolution in low energy X-ray radiation is proved on several objects. The achieved spatial resolution of the images is better than 1 micron. The objects used for imaging are grids and small animals with parts of several microns in dimension. The high-resolution imaging system can be used for different types of ionizing radiation (X-Ray, electron, UV, and VUV) for nondestructive micro-radiography andsynchrotron beam inspection.

Název v anglickém jazyce

Thin YAG:Ce and LuAG:Ce single crystal imaging plates used for high spatial resolution in X-ray imaging systems

Popis výsledku anglicky

A high-resolution CCD X-ray camera based on YAG:Ce or LuAG:Ce thin scintillators is presented. The high resolution in low energy X-ray radiation is proved on several objects. The achieved spatial resolution of the images is better than 1 micron. The objects used for imaging are grids and small animals with parts of several microns in dimension. The high-resolution imaging system can be used for different types of ionizing radiation (X-Ray, electron, UV, and VUV) for nondestructive micro-radiography andsynchrotron beam inspection.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2009

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Nuclear science symposium and madical imaging conference (2008 NSS/MIC)

ISBN

978-1-4244-2714-7

ISSN

1082-3654

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

3

Strana od-do

—

Název nakladatele

IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC

Místo vydání

New York

Místo konání akce

Dresden

Datum konání akce

19. 10. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000268656000108