Nitrogen oversaturation in ion implanted titanium
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21220%2F18%3A00325679" target="_blank" >RIV/68407700:21220/18:00325679 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Nitrogen oversaturation in ion implanted titanium
Popis výsledku v původním jazyce
Commercially pure titanium grade 2 was implanted with 90 keV nitrogen ions with different fluences. X-ray diffraction analysis was performed to obtain a phase characterization. The surface morphology was investigated by scanning electron microscopy and atomic force microscopy, and the nitrogen depth distribution was measured by glow discharge optical emission spectroscopy. The formation of continuous TiN surface layer was observed. The dependence nitrogen concentration on the fluence showed a nitrogen saturation limit. Oversaturation caused the surface blistering. The highest applied fluence led to the sputtering of the blisters and the formation of cracks.
Název v anglickém jazyce
Nitrogen oversaturation in ion implanted titanium
Popis výsledku anglicky
Commercially pure titanium grade 2 was implanted with 90 keV nitrogen ions with different fluences. X-ray diffraction analysis was performed to obtain a phase characterization. The surface morphology was investigated by scanning electron microscopy and atomic force microscopy, and the nitrogen depth distribution was measured by glow discharge optical emission spectroscopy. The formation of continuous TiN surface layer was observed. The dependence nitrogen concentration on the fluence showed a nitrogen saturation limit. Oversaturation caused the surface blistering. The highest applied fluence led to the sputtering of the blisters and the formation of cracks.
Klasifikace
Druh
O - Ostatní výsledky
CEP obor
—
OECD FORD obor
20501 - Materials engineering
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GA16-22276S" target="_blank" >GA16-22276S: Dusíkem dopované titanové materiály: Studium teplotně závislé dopace v radiačně poškozené matrici</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů