Intercomparison of Resistance Standards with Calculable Frequency Dependence for the Characterisation of Quantum Hall Devices

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F00%3A03060930" target="_blank" >RIV/68407700:21230/00:03060930 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/68407700:21230/00:03020930
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Intercomparison of Resistance Standards with Calculable Frequency Dependence for the Characterisation of Quantum Hall Devices
Popis výsledku v původním jazyce
We have constructed ac/dc transfer resistance standards with nominal values of 12906.4 ohms. The resistors differ considerably since bifilar, quadrifilar, and octafilar units have been built. In addition the length of the quadrifilar units was varied.
Název v anglickém jazyce
Intercomparison of Resistance Standards with Calculable Frequency Dependence for the Characterisation of Quantum Hall Devices
Popis výsledku anglicky
We have constructed ac/dc transfer resistance standards with nominal values of 12906.4 ohms. The resistors differ considerably since bifilar, quadrifilar, and octafilar units have been built. In addition the length of the quadrifilar units was varied.

Projekt
<a href="/cs/project/GA102%2F98%2F1571" target="_blank" >GA102/98/1571: Kalibrace etalonů elektrické kapacity založená na využití kvantového Hallova jevu</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění
2000
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)