Crossing Point Current of Power P-i-N Diodes: Impact of Lifetime Treatment

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F00%3A03060936" target="_blank" >RIV/68407700:21230/00:03060936 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Crossing Point Current of Power P-i-N Diodes: Impact of Lifetime Treatment

Popis výsledku v původním jazyce

Simulation and measurement of the crossing point current

Název v anglickém jazyce

Crossing Point Current of Power P-i-N Diodes: Impact of Lifetime Treatment

Popis výsledku anglicky

Simulation and measurement of the crossing point current

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2000

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings MIEL 2000

ISBN

0-7803-5235-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

625-628

Název nakladatele

IEEE

Místo vydání

Piscataway

Místo konání akce

Niš

Datum konání akce

14. 5. 2000

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—