Advanced Local Lifetime Control for Higher Reliability of Power Devices
Popis výsledku
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Advanced Local Lifetime Control for Higher Reliability of Power Devices
Popis výsledku v původním jazyce
The decoration of radiation defects by Pt diffusing from PtSi anode contact.
Název v anglickém jazyce
Advanced Local Lifetime Control for Higher Reliability of Power Devices
Popis výsledku anglicky
The decoration of radiation defects by Pt diffusing from PtSi anode contact.
Klasifikace
Druh
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
GA102/03/0456: Nové metody lokálního řízení doby života v polovodičích
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2003
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
Microelectronics Reliability
ISSN
0026-2714
e-ISSN
—
Svazek periodika
43
Číslo periodika v rámci svazku
10
Stát vydavatele periodika
NL - Nizozemsko
Počet stran výsledku
6
Strana od-do
1883-1888
Kód UT WoS článku
—
EID výsledku v databázi Scopus
—
Základní informace
Druh výsledku
Jx - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
Rok uplatnění
2003