Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Comparative Measurements of Parameters of Systems Used for ADC Testing

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F03%3A03093600" target="_blank" >RIV/68407700:21230/03:03093600 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Comparative Measurements of Parameters of Systems Used for ADC Testing

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Comparative measurements of ADC testing systems among the Laboratoire de micro-électronique IXL of University Bordeaux, the laboratory of the Institute of Microelectronics and Mechatronics Systems Ilmenau, and the ADC T&M Laboratory of the Dept. of Measurement of FEE CTU in Prague was executed. The comparison was performed using a transportable reference AD device designed and developed in FEE CTU. The results of executed measurements were analysed and the comparison of characteristics of tested systemswas made.

  • Název v anglickém jazyce

    Comparative Measurements of Parameters of Systems Used for ADC Testing

  • Popis výsledku anglicky

    Comparative measurements of ADC testing systems among the Laboratoire de micro-électronique IXL of University Bordeaux, the laboratory of the Institute of Microelectronics and Mechatronics Systems Ilmenau, and the ADC T&M Laboratory of the Dept. of Measurement of FEE CTU in Prague was executed. The comparison was performed using a transportable reference AD device designed and developed in FEE CTU. The results of executed measurements were analysed and the comparison of characteristics of tested systemswas made.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2003

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Computer Standards & Interfaces

  • ISSN

    0920-5489

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    Neuveden

  • Číslo periodika v rámci svazku

    26

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    10

  • Strana od-do

    21-30

  • Kód UT WoS článku

  • EID výsledku v databázi Scopus