Není k dispozici

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F04%3A03094835" target="_blank" >RIV/68407700:21230/04:03094835 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Very Thin Layers Prepared By Laser Ablation From Bi2Te3 Target

Popis výsledku v původním jazyce

Transport properties are presented for 60nm thick layers which were prepared by the laser ablation from a Bi2Te3 target. The layers are deposited on quartz glass substrates. The energy density of the laser beam on the target is 2Jcm-2 and the temperatureof the substrate during deposition varies between (200-480°C) for different samples. The influence of the temperature of the substrate during the deposition on topography of layers measured by Scanning Tunnelling Microscope (STM) is presented.The BiTe and Bi2Te phases are detected by the X-ray Diffraction (XRD) method.

Název v anglickém jazyce

Very Thin Layers Prepared By Laser Ablation From Bi2Te3 Target

Popis výsledku anglicky

Transport properties are presented for 60nm thick layers which were prepared by the laser ablation from a Bi2Te3 target. The layers are deposited on quartz glass substrates. The energy density of the laser beam on the target is 2Jcm-2 and the temperatureof the substrate during deposition varies between (200-480°C) for different samples. The influence of the temperature of the substrate during the deposition on topography of layers measured by Scanning Tunnelling Microscope (STM) is presented.The BiTe and Bi2Te phases are detected by the X-ray Diffraction (XRD) method.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

BM - Fyzika pevných látek a magnetismus

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2004

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Proceedings of 22nd International Conference on Thermoelectrics

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

1

Strana od-do

1-1

Název nakladatele

IEEE Computer Society - TC on Test Technology

Místo vydání

Montpellier

Místo konání akce

La Grande-Motte

Datum konání akce

17. 8. 2003

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—