Analýza a měření kapacitních vazeb v integrovaných obvodech

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F08%3A03147670" target="_blank" >RIV/68407700:21230/08:03147670 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Analysis and measurement of capacitive coupling in integrated circuits

Popis výsledku v původním jazyce

Analysis and measurement of capacitive coupling in integrated circuits

Název v anglickém jazyce

Analysis and measurement of capacitive coupling in integrated circuits

Popis výsledku anglicky

Analysis and measurement of capacitive coupling in integrated circuits

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2008

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

ASDAM 2008 Conference Proceedings

ISBN

978-1-4244-2325-5

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

Slovak University of Technology

Místo vydání

Bratislava

Místo konání akce

Smolenice

Datum konání akce

12. 10. 2008

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

—