Economical Test of Internal ADC in Embedded Systems
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F09%3A00157478" target="_blank" >RIV/68407700:21230/09:00157478 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Economical Test of Internal ADC in Embedded Systems
Popis výsledku v původním jazyce
This paper describes two methods for economical test of dynamic parameters ADCs in embedded Data Acquisition Systems. First method is Exponential Fit Test, second method is Wobbler Test. Common testing methods are mentioned as far the accuracy and time necessary for the complete test are concerned. The tests for fast evaluation of the dependence of an effective number of bits on frequency of input signal are described and the comparison of proposed method with the standard methods is given.
Název v anglickém jazyce
Economical Test of Internal ADC in Embedded Systems
Popis výsledku anglicky
This paper describes two methods for economical test of dynamic parameters ADCs in embedded Data Acquisition Systems. First method is Exponential Fit Test, second method is Wobbler Test. Common testing methods are mentioned as far the accuracy and time necessary for the complete test are concerned. The tests for fast evaluation of the dependence of an effective number of bits on frequency of input signal are described and the comparison of proposed method with the standard methods is given.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/GD102%2F09%2FH082" target="_blank" >GD102/09/H082: Senzory a inteligentní senzorové systémy</a><br>
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
XIX IMEKO World Congress 2009 - Fundamental and Applied Metrology
ISBN
978-963-88410-0-1
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
—
Název nakladatele
Instituto Superior Técnico/Instituto de Telecomunicaçoes Portugal
Místo vydání
Lisbon
Místo konání akce
Lisabon
Datum konání akce
6. 9. 2009
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—