Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Reliability Risks of tin-rich alloys for Electronic Industry

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F09%3A00157498" target="_blank" >RIV/68407700:21230/09:00157498 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Reliability Risks of tin-rich alloys for Electronic Industry

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Cause of EU directive the electronic industry has moved forward with lead-free technology at the assembly and component level. Tin and tin-rich alloys have been considered as good and cheap alternatives for component finishes and solder alloys. Althoughpure tin and tin-rich alloys have some specific reliability risks which have to be evaluated during a product's design. Among these specifics belong especially tin whiskers and last but not least tin pest. The objective of this paper is to evaluate the different reliability risks caused by pure tin and tin-rich alloys, to propose mitigation practices and its optical detection methods.

  • Název v anglickém jazyce

    Reliability Risks of tin-rich alloys for Electronic Industry

  • Popis výsledku anglicky

    Cause of EU directive the electronic industry has moved forward with lead-free technology at the assembly and component level. Tin and tin-rich alloys have been considered as good and cheap alternatives for component finishes and solder alloys. Althoughpure tin and tin-rich alloys have some specific reliability risks which have to be evaluated during a product's design. Among these specifics belong especially tin whiskers and last but not least tin pest. The objective of this paper is to evaluate the different reliability risks caused by pure tin and tin-rich alloys, to propose mitigation practices and its optical detection methods.

Klasifikace

  • Druh

    O - Ostatní výsledky

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/OE229" target="_blank" >OE229: BESTPRODUCT- TENEEST Celoevropská síť environmentálního inženýrství</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2009

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů