Mathematically Simulated Process of Evaporation of Thin NiCr Films
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F09%3A00161575" target="_blank" >RIV/68407700:21230/09:00161575 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Mathematically Simulated Process of Evaporation of Thin NiCr Films
Popis výsledku v původním jazyce
Process of evaporation of NiCr thin films has been simulated using DOE. Experiments of the type two to two have been carried out and mathematical model has been tested using F-test.
Název v anglickém jazyce
Mathematically Simulated Process of Evaporation of Thin NiCr Films
Popis výsledku anglicky
Process of evaporation of NiCr thin films has been simulated using DOE. Experiments of the type two to two have been carried out and mathematical model has been tested using F-test.
Klasifikace
Druh
D - Stať ve sborníku
CEP obor
JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika
OECD FORD obor
—
Návaznosti výsledku
Projekt
—
Návaznosti
Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)
Ostatní
Rok uplatnění
2009
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název statě ve sborníku
15th International Symposium for Design and Technology of Electronics Packages
ISBN
978-1-4244-5132-6
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
2
Strana od-do
106-107
Název nakladatele
TU Budapest
Místo vydání
Budapest
Místo konání akce
Gyula
Datum konání akce
17. 9. 2009
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
—