Self Heating of an Atomic Force Microscope

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F10%3A00163370" target="_blank" >RIV/68407700:21230/10:00163370 - isvavai.cz</a>
Nalezeny alternativní kódy
RIV/67985882:_____/10:00350712
Výsledek na webu
—
DOI - Digital Object Identifier
—

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Self Heating of an Atomic Force Microscope
Popis výsledku v původním jazyce
Atomic force microscopy (AFM) is a sensitive technique susceptible to unwanted inluences, such as thermal noise, vibrational noise, etc. Although, tools that protect AFM against external noise have been developed and are widely used, there are still manysources of inherent noise. One of them is selfheating of the apparatus. This paper deals with self{heating of the AFM using an optical lever. This phenomenon is shown to be substantial in particular after activation of the microscope. The inluence on the intrinsic contact noise of AFM's is also examined.
Název v anglickém jazyce
Self Heating of an Atomic Force Microscope
Popis výsledku anglicky
Atomic force microscopy (AFM) is a sensitive technique susceptible to unwanted inluences, such as thermal noise, vibrational noise, etc. Although, tools that protect AFM against external noise have been developed and are widely used, there are still manysources of inherent noise. One of them is selfheating of the apparatus. This paper deals with self{heating of the AFM using an optical lever. This phenomenon is shown to be substantial in particular after activation of the microscope. The inluence on the intrinsic contact noise of AFM's is also examined.

Druh
J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)
CEP obor
JB - Senzory, čidla, měření a regulace
OECD FORD obor
—

Rok uplatnění
2010
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)