Microwave Impedance Measurement for Nanoelectronics

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00180069" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00180069 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://www.radioeng.cz/papers/2011-1.htm" target="_blank" >http://www.radioeng.cz/papers/2011-1.htm</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Microwave Impedance Measurement for Nanoelectronics

Popis výsledku v původním jazyce

The rapid progress in nanoelectronics showed an urgent need for microwave measurement of impedances extremely different from the 50? reference impedance of measurement instruments. In commonly used methods input impedance or admitance of a device under test (DUT) is derived from measured value of its reflection coefficient causing serious accuracy problems for very high and very low impedances due to insufficient sensitivity of the reflection coefficient to impedance of the DUT. This paper brings theoretical description and experimental verification of a method developed especially for measurement of extreme impedances. The method can significantly improve measurement sensitivity and reduce errors caused by the VNA.

Název v anglickém jazyce

Microwave Impedance Measurement for Nanoelectronics

Popis výsledku anglicky

The rapid progress in nanoelectronics showed an urgent need for microwave measurement of impedances extremely different from the 50? reference impedance of measurement instruments. In commonly used methods input impedance or admitance of a device under test (DUT) is derived from measured value of its reflection coefficient causing serious accuracy problems for very high and very low impedances due to insufficient sensitivity of the reflection coefficient to impedance of the DUT. This paper brings theoretical description and experimental verification of a method developed especially for measurement of extreme impedances. The method can significantly improve measurement sensitivity and reduce errors caused by the VNA.

Druh

J_x - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název periodika

Radioengineering

ISSN

1210-2512

e-ISSN

—

Svazek periodika

20

Číslo periodika v rámci svazku

1

Stát vydavatele periodika

CZ - Česká republika

Počet stran výsledku

8

Strana od-do

276-283

Kód UT WoS článku

000289657400017

EID výsledku v databázi Scopus

—