Issues of flicker noise measurements on power semiconductor devices

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00182032" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00182032 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Issues of flicker noise measurements on power semiconductor devices

Popis výsledku v původním jazyce

Flicker noise is one of the most important quality indicators of electronic devices. Quality of passive elements is often evaluated according noise level, which is deeply affected by material ageing. Noise measurement can be used for lifetime predictionand probability of failures. Concerning semiconductor devices flicker noise is a criterion of used production technology. Influence of ageing is (contrary of passive devices) not so expressive. However, noise measurement allows to reveal latent defects of diode reverse properties that are unidentified by means of standard in-process inspection. Unlike other standard methods noise measurement requires perfect matching of analyzing circuit and investigated device. Used equipment and method deeply affect results of measurement.

Název v anglickém jazyce

Issues of flicker noise measurements on power semiconductor devices

Popis výsledku anglicky

Flicker noise is one of the most important quality indicators of electronic devices. Quality of passive elements is often evaluated according noise level, which is deeply affected by material ageing. Noise measurement can be used for lifetime predictionand probability of failures. Concerning semiconductor devices flicker noise is a criterion of used production technology. Influence of ageing is (contrary of passive devices) not so expressive. However, noise measurement allows to reveal latent defects of diode reverse properties that are unidentified by means of standard in-process inspection. Unlike other standard methods noise measurement requires perfect matching of analyzing circuit and investigated device. Used equipment and method deeply affect results of measurement.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

Diagnostika '11

ISBN

978-80-261-0020-1

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

152-155

Název nakladatele

Západočeská univerzita v Plzni

Místo vydání

Plzeň

Místo konání akce

Kašperské Hory

Datum konání akce

6. 9. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—