Non-invasive Measurement of Complex Permittivity of Dielectric Substrates

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F11%3A00182328" target="_blank" >RIV/68407700:21230/11:00182328 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Non-invasive Measurement of Complex Permittivity of Dielectric Substrates

Popis výsledku v původním jazyce

Complex permittivity measurements are important in microwave engineering, material processing, as well as biomedical applications. Recently, planar circuits, such as microstrip lines, coplanar waveguides, and strip lines have found their applications incomplex permittivity measurements. Planar structures, which are lightweight, compact and low cost, have been successfully applied to the determination of substrate permittivity, material moisture etc. Planar circuit measurements are classified into resonant methods (with high accuracy and sensitivity) and non-resonant methods (broadband measurements). When choosing the measurement method, we have to take into account the non-destructive form of measurement. Therefore the most appropriate method is a modified resonance method.

Název v anglickém jazyce

Non-invasive Measurement of Complex Permittivity of Dielectric Substrates

Popis výsledku anglicky

Complex permittivity measurements are important in microwave engineering, material processing, as well as biomedical applications. Recently, planar circuits, such as microstrip lines, coplanar waveguides, and strip lines have found their applications incomplex permittivity measurements. Planar structures, which are lightweight, compact and low cost, have been successfully applied to the determination of substrate permittivity, material moisture etc. Planar circuit measurements are classified into resonant methods (with high accuracy and sensitivity) and non-resonant methods (broadband measurements). When choosing the measurement method, we have to take into account the non-destructive form of measurement. Therefore the most appropriate method is a modified resonance method.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2011

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

ISMOT Proceedings 2011

ISBN

978-80-01-04887-0

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

527-530

Název nakladatele

FEL ČVUT

Místo vydání

Praha

Místo konání akce

Praha

Datum konání akce

20. 6. 2011

Typ akce podle státní příslušnosti

EUR - Evropská akce

Kód UT WoS článku

—