Monitoring of Metalized Film Capacitors Degradation with Impedance Nonlinearity Measurement

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F13%3A00208960" target="_blank" >RIV/68407700:21230/13:00208960 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/SIITME.2013.6743687" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/SIITME.2013.6743687</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.1109/SIITME.2013.6743687" target="_blank" >10.1109/SIITME.2013.6743687</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Monitoring of Metalized Film Capacitors Degradation with Impedance Nonlinearity Measurement

Popis výsledku v původním jazyce

Six capacitors of metalized polymer film were measured - nonlinearity of impedance was investigated. Then the capacitors were thermally aged at the temperature of 90 oC for the time of 300 hours and the measurement of nonlinearty was repeated. It was found that the temperature ageing of capacitors causes change of the nonlinearity. The cause is change of the structure of the thin film electrode caused by ageing. This approach could be used to inspection of level of ageing of the capacitors as well as toforecast of the rest life-time of the capacitors.

Název v anglickém jazyce

Monitoring of Metalized Film Capacitors Degradation with Impedance Nonlinearity Measurement

Popis výsledku anglicky

Six capacitors of metalized polymer film were measured - nonlinearity of impedance was investigated. Then the capacitors were thermally aged at the temperature of 90 oC for the time of 300 hours and the measurement of nonlinearty was repeated. It was found that the temperature ageing of capacitors causes change of the nonlinearity. The cause is change of the structure of the thin film electrode caused by ageing. This approach could be used to inspection of level of ageing of the capacitors as well as toforecast of the rest life-time of the capacitors.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)<br>S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Rok uplatnění

2013

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

SIITME 2013

ISBN

978-1-4799-1555-2

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

263-266

Název nakladatele

University of Bucharest Publishing House

Místo vydání

Bucharest

Místo konání akce

Galati

Datum konání akce

24. 10. 2013

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

000347562900047