Microwave interferometric method for metal sheet thickness measurement

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F13%3A00213246" target="_blank" >RIV/68407700:21230/13:00213246 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ARFTG.2013.6579036" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/ARFTG.2013.6579036</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/ARFTG.2013.6579036" target="_blank" >10.1109/ARFTG.2013.6579036</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Microwave interferometric method for metal sheet thickness measurement
Popis výsledku v původním jazyce
A new microwave method capable of contactless thickness measurement of metal sheets with high resolution has been proposed. First experimental results in X-band are reported. The method is based on precise interferometric phase evaluation of a signal reflected step by step from two surfaces of a metal sheet whose thickness is to be measured. This is achieved using interference between the reflected and reference signals. Micrometer resolution at 10 GHz can be expected.
Název v anglickém jazyce
Microwave interferometric method for metal sheet thickness measurement
Popis výsledku anglicky
A new microwave method capable of contactless thickness measurement of metal sheets with high resolution has been proposed. First experimental results in X-band are reported. The method is based on precise interferometric phase evaluation of a signal reflected step by step from two surfaces of a metal sheet whose thickness is to be measured. This is achieved using interference between the reflected and reference signals. Micrometer resolution at 10 GHz can be expected.

Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2013
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Podobné výsledky(10)