Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Determination of elastic properties of surface layers and coatings

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F14%3A00222569" target="_blank" >RIV/68407700:21230/14:00222569 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2014.6998648" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2014.6998648</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ASDAM.2014.6998648" target="_blank" >10.1109/ASDAM.2014.6998648</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Determination of elastic properties of surface layers and coatings

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper shows determination of elastic constants of thin layers deposited on substrates. Resonant ultrasound spectroscopy is used to measure resonant spectras before and after layer deposition. These two spectra are compared and changes in the position of the resonant peaks are associated with layer properties. For thin layers either the elastic moduli or the surface mass density can be determined, providing the complementary information.

  • Název v anglickém jazyce

    Determination of elastic properties of surface layers and coatings

  • Popis výsledku anglicky

    This paper shows determination of elastic constants of thin layers deposited on substrates. Resonant ultrasound spectroscopy is used to measure resonant spectras before and after layer deposition. These two spectra are compared and changes in the position of the resonant peaks are associated with layer properties. For thin layers either the elastic moduli or the surface mass density can be determined, providing the complementary information.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2014

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    10th International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems ASDAM 2014 Conference Proceedings

  • ISBN

    978-1-4799-5475-9

  • ISSN

    2475-2916

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    69-72

  • Název nakladatele

    Slovak University of Technology in Bratislava

  • Místo vydání

    Bratislava

  • Místo konání akce

    Smolenice

  • Datum konání akce

    20. 10. 2014

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000412228100017