Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

A Mode-Matching Technique for Analysis of Scattering by Periodic Comb Surfaces

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F15%3A00231316" target="_blank" >RIV/68407700:21230/15:00231316 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/TAP.2015.2452945" target="_blank" >http://dx.doi.org/10.1109/TAP.2015.2452945</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/TAP.2015.2452945" target="_blank" >10.1109/TAP.2015.2452945</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    A Mode-Matching Technique for Analysis of Scattering by Periodic Comb Surfaces

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Numerical techniques for calculating electromagnetic fields within three-dimensional surfaces are computationally intensive. Therefore, this paper presents the application of a modematching technique developed for analyzing electromagnetic scattering from periodic comb surfaces illuminated by a plane wave. A set of linear equations has been developed to calculate mode coefficients of the field distribution for both E- and H-polarized incident waves. Analysis is performed for two cases where the comb thickness is either infinitely thin or of a finite thickness. The technique is shown to accurately predict both field intensities within the near-field of the periodic surface and far-field scattering patterns. Results are compared to those obtained using the finite integration techniques (FIT) implemented in CST Microwave Studio. Furthermore, numerical results are compared to measurements of an aluminum prototype. Additional far-field scattering measurements using a bi-static system provid

  • Název v anglickém jazyce

    A Mode-Matching Technique for Analysis of Scattering by Periodic Comb Surfaces

  • Popis výsledku anglicky

    Numerical techniques for calculating electromagnetic fields within three-dimensional surfaces are computationally intensive. Therefore, this paper presents the application of a modematching technique developed for analyzing electromagnetic scattering from periodic comb surfaces illuminated by a plane wave. A set of linear equations has been developed to calculate mode coefficients of the field distribution for both E- and H-polarized incident waves. Analysis is performed for two cases where the comb thickness is either infinitely thin or of a finite thickness. The technique is shown to accurately predict both field intensities within the near-field of the periodic surface and far-field scattering patterns. Results are compared to those obtained using the finite integration techniques (FIT) implemented in CST Microwave Studio. Furthermore, numerical results are compared to measurements of an aluminum prototype. Additional far-field scattering measurements using a bi-static system provid

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>x</sub> - Nezařazeno - Článek v odborném periodiku (Jimp, Jsc a Jost)

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    R - Projekt Ramcoveho programu EK

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2015

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    IEEE Transactions on Antennas and Propagation

  • ISSN

    0018-926X

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    63

  • Číslo periodika v rámci svazku

    9

  • Stát vydavatele periodika

    US - Spojené státy americké

  • Počet stran výsledku

    8

  • Strana od-do

    4016-4023

  • Kód UT WoS článku

    000360803400024

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-84940973050