Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Reducing Crosstalk in the Internal Structures of Integrated Circuits

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F16%3A00304043" target="_blank" >RIV/68407700:21230/16:00304043 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.elu.sav.sk/asdam/" target="_blank" >http://www.elu.sav.sk/asdam/</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Reducing Crosstalk in the Internal Structures of Integrated Circuits

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The advent of novel sub-micron technologies of IC fabrication led to such a decrease in lead-to-lead separation that it is not possible any more to neglect the influence of these leads on the reliability of the system operation. Both the small lead separation and the application of multilayer interconnecting systems cause parasitic electromagnetic couplings; in the case of a unipolar CMOS technology, the capacitive coupling is the dominant effect. It is impossible to measure direct the rapid variations voltage between leads inside the IC.

  • Název v anglickém jazyce

    Reducing Crosstalk in the Internal Structures of Integrated Circuits

  • Popis výsledku anglicky

    The advent of novel sub-micron technologies of IC fabrication led to such a decrease in lead-to-lead separation that it is not possible any more to neglect the influence of these leads on the reliability of the system operation. Both the small lead separation and the application of multilayer interconnecting systems cause parasitic electromagnetic couplings; in the case of a unipolar CMOS technology, the capacitive coupling is the dominant effect. It is impossible to measure direct the rapid variations voltage between leads inside the IC.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

    <a href="/cs/project/VG20102015015" target="_blank" >VG20102015015: Miniaturní inteligentní analyzační systém koncentrací plynů a škodlivých látek, zejména toxických</a><br>

  • Návaznosti

    P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2016

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    ASDAM 2016 Conference Proceedings - The 11th International Conference on Advanced Semiconductor and Microsystems

  • ISBN

    978-1-5090-3081-1

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    4

  • Strana od-do

    101-104

  • Název nakladatele

    Slovenská akademie věd

  • Místo vydání

    Bratislava

  • Místo konání akce

    Smolenice

  • Datum konání akce

    13. 11. 2016

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000392530900025