Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Operation of 4H-SiC high voltage normally-OFF V-JFET in radiation hard conditions: Simulations and experiment

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F17%3A00311708" target="_blank" >RIV/68407700:21230/17:00311708 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271417301464" target="_blank" >http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271417301464</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1016/j.microrel.2017.05.015" target="_blank" >10.1016/j.microrel.2017.05.015</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Operation of 4H-SiC high voltage normally-OFF V-JFET in radiation hard conditions: Simulations and experiment

  • Popis výsledku v původním jazyce

    This paper deals with the operation of neutron irradiated 1700V SiC V-JFET in proposed DC-DC converters. The influence of irradiated V-JFET on the function of DC-DC converters are investigated. The measured results are compared with TCAD MixedMode simulation.

  • Název v anglickém jazyce

    Operation of 4H-SiC high voltage normally-OFF V-JFET in radiation hard conditions: Simulations and experiment

  • Popis výsledku anglicky

    This paper deals with the operation of neutron irradiated 1700V SiC V-JFET in proposed DC-DC converters. The influence of irradiated V-JFET on the function of DC-DC converters are investigated. The measured results are compared with TCAD MixedMode simulation.

Klasifikace

  • Druh

    J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    S - Specificky vyzkum na vysokych skolach

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2017

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název periodika

    Microelectronics Reliability

  • ISSN

    0026-2714

  • e-ISSN

  • Svazek periodika

    74

  • Číslo periodika v rámci svazku

    July

  • Stát vydavatele periodika

    NL - Nizozemsko

  • Počet stran výsledku

    9

  • Strana od-do

    58-66

  • Kód UT WoS článku

    000404308900009

  • EID výsledku v databázi Scopus

    2-s2.0-85020452602