Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

The Relationship Between the Parameters of Vacuum Evaporation Process

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F18%3A00327509" target="_blank" >RIV/68407700:21230/18:00327509 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

    <a href="https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/8443684" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/abstract/document/8443684</a>

  • DOI - Digital Object Identifier

    <a href="http://dx.doi.org/10.1109/ISSE.2018.8443684" target="_blank" >10.1109/ISSE.2018.8443684</a>

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    The Relationship Between the Parameters of Vacuum Evaporation Process

  • Popis výsledku v původním jazyce

    The work focuses on the problematic of thin layers prepared by the method of vacuum evaporation. The relationship between properties of deposited aluminium thin film layer and settings of starting parameters of deposition process was analysed. The theoretically calculated thickness of layers was compared with measured values of thickness. Influence of oxide layer that grows on surface aluminium layer was discussed too.

  • Název v anglickém jazyce

    The Relationship Between the Parameters of Vacuum Evaporation Process

  • Popis výsledku anglicky

    The work focuses on the problematic of thin layers prepared by the method of vacuum evaporation. The relationship between properties of deposited aluminium thin film layer and settings of starting parameters of deposition process was analysed. The theoretically calculated thickness of layers was compared with measured values of thickness. Influence of oxide layer that grows on surface aluminium layer was discussed too.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

  • OECD FORD obor

    20201 - Electrical and electronic engineering

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2018

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    2018 41st International Spring Seminar on Electronics Technology (ISSE)

  • ISBN

    978-3-319-73847-5

  • ISSN

    2161-2536

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

  • Název nakladatele

    IEEE

  • Místo vydání

    NEW YORK, NY

  • Místo konání akce

    Zlatibor, Serbia

  • Datum konání akce

    16. 5. 2018

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    WRD - Celosvětová akce

  • Kód UT WoS článku

    000449866600058