Changes of loss factor of polypropylene film capacitors during long time thermal ageing

Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F18%3A00327637" target="_blank" >RIV/68407700:21230/18:00327637 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://ieeexplore.ieee.org/document/7248004" target="_blank" >https://ieeexplore.ieee.org/document/7248004</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/DIAGNOSTIKA.2018.8526139" target="_blank" >10.1109/DIAGNOSTIKA.2018.8526139</a>

Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Changes of loss factor of polypropylene film capacitors during long time thermal ageing
Popis výsledku v původním jazyce
Capacitors made of a polypropylene film are high-quality components having self-leading ability and low loss factor. The work was oriented on study of percentage changes of the loss factor of the PP film capacitors during long-time thermal treatment at 100 oC. The capacitance of the capacitors was 100 nF, the class of the capacitors was X2. The loss factor was inspected at the frequency of 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz and 1 MHz. It was found low changes of the loss factor only that depend slightly on the value of the loss factor at the beginning of the test.
Název v anglickém jazyce
Changes of loss factor of polypropylene film capacitors during long time thermal ageing
Popis výsledku anglicky
Capacitors made of a polypropylene film are high-quality components having self-leading ability and low loss factor. The work was oriented on study of percentage changes of the loss factor of the PP film capacitors during long-time thermal treatment at 100 oC. The capacitance of the capacitors was 100 nF, the class of the capacitors was X2. The loss factor was inspected at the frequency of 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz and 1 MHz. It was found low changes of the loss factor only that depend slightly on the value of the loss factor at the beginning of the test.

Projekt
—
Návaznosti
I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Rok uplatnění
2018
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku
2018 International Conference on Diagnostics in Electrical Engineering (Diagnostika)
ISBN
978-1-5386-4424-9
ISSN
—
e-ISSN
—
Počet stran výsledku
4
Strana od-do
110-113
Název nakladatele
Czechoslovakia Section IEEE
Místo vydání
Prague
Místo konání akce
Pilsen
Datum konání akce
4. 9. 2018
Typ akce podle státní příslušnosti
WRD - Celosvětová akce
Kód UT WoS článku
000451377600055

Podobné výsledky(10)