Quick Diagnostic Tool for Thin-Film Photovoltaic Power Plants Utilizing Dark Current Measurement
Identifikátory výsledku
Kód výsledku v IS VaVaI
<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F22%3A00355508" target="_blank" >RIV/68407700:21230/22:00355508 - isvavai.cz</a>
Výsledek na webu
<a href="https://doi.org/10.1109/JPHOTOV.2022.3145096" target="_blank" >https://doi.org/10.1109/JPHOTOV.2022.3145096</a>
DOI - Digital Object Identifier
<a href="http://dx.doi.org/10.1109/JPHOTOV.2022.3145096" target="_blank" >10.1109/JPHOTOV.2022.3145096</a>
Alternativní jazyky
Jazyk výsledku
angličtina
Název v původním jazyce
Quick Diagnostic Tool for Thin-Film Photovoltaic Power Plants Utilizing Dark Current Measurement
Popis výsledku v původním jazyce
There exist many photovoltaic (PV) power plants which are based on thin-film technology. Unlike PV power plant with crystalline silicon technology, the diagnostic possibilities of thin-film PV modules are limited due to seasonal effects and problematic utilization of thermography. The main problem of degradation of these PV plants is the area degradation which affects even PV power plants with transformer inverters. Although there exist measurement methods based on I–V curve measurement, these methods require specific climatic conditions (clear sky, sufficient irradiance) and time. Here, we present the novel approach to diagnose thin-film modules affected with degradation which provides quick results with low-cost equipment.
Název v anglickém jazyce
Quick Diagnostic Tool for Thin-Film Photovoltaic Power Plants Utilizing Dark Current Measurement
Popis výsledku anglicky
There exist many photovoltaic (PV) power plants which are based on thin-film technology. Unlike PV power plant with crystalline silicon technology, the diagnostic possibilities of thin-film PV modules are limited due to seasonal effects and problematic utilization of thermography. The main problem of degradation of these PV plants is the area degradation which affects even PV power plants with transformer inverters. Although there exist measurement methods based on I–V curve measurement, these methods require specific climatic conditions (clear sky, sufficient irradiance) and time. Here, we present the novel approach to diagnose thin-film modules affected with degradation which provides quick results with low-cost equipment.
Klasifikace
Druh
J<sub>imp</sub> - Článek v periodiku v databázi Web of Science
CEP obor
—
OECD FORD obor
20704 - Energy and fuels
Návaznosti výsledku
Projekt
<a href="/cs/project/EF15_003%2F0000464" target="_blank" >EF15_003/0000464: Centrum pokročilé fotovoltaiky</a><br>
Návaznosti
P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)
Ostatní
Rok uplatnění
2022
Kód důvěrnosti údajů
S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů
Údaje specifické pro druh výsledku
Název periodika
IEEE Journal of Photovoltaics
ISSN
2156-3381
e-ISSN
2156-3403
Svazek periodika
12
Číslo periodika v rámci svazku
2
Stát vydavatele periodika
US - Spojené státy americké
Počet stran výsledku
7
Strana od-do
565-571
Kód UT WoS článku
000751480500001
EID výsledku v databázi Scopus
2-s2.0-85124180953