CORRELATIVE PROBE ELECTRON MICROSCOPY ANALYSIS OF PLASMA-TREATED GALLIUM-DOPED ZINC OXIDE NANORODS

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F24%3A00375959" target="_blank" >RIV/68407700:21230/24:00375959 - isvavai.cz</a>

Nalezeny alternativní kódy

RIV/68378271:_____/24:00597907

Výsledek na webu

<a href="https://doi.org/10.37904/nanocon.2023.4762" target="_blank" >https://doi.org/10.37904/nanocon.2023.4762</a>

DOI - Digital Object Identifier

<a href="http://dx.doi.org/10.37904/nanocon.2023.4762" target="_blank" >10.37904/nanocon.2023.4762</a>

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

CORRELATIVE PROBE ELECTRON MICROSCOPY ANALYSIS OF PLASMA-TREATED GALLIUM-DOPED ZINC OXIDE NANORODS

Popis výsledku v původním jazyce

Correlative Probe Electron Microscopy (CPEM) was used to investigate the topographical and electronic emission properties of gallium-doped zinc oxide nanorods (ZnO:Ga) after low pressure hydrogen or oxygen plasma treatment. Simultaneous secondary electron (SE) and back-scattered electron (BSE) emission information from the same nanorods enabled true correlation with the topographical information obtained by atomic force microscopy (AFM). All nanorods were analyzed in-situ on the same substrate using the same experimental parameters which allowed for accurate comparison. ZnO:Ga nanorods displayed the largest SE emission intensity as well as the greatest BSE emission intensity. Hydrogen plasma treatment reduced both SE and BSE emission intensity, whereas oxygen plasma treatment only reduced SE emission. These effects may help elucidate various optical as well as biological interactions of ZnO:Ga nanorods.

Název v anglickém jazyce

CORRELATIVE PROBE ELECTRON MICROSCOPY ANALYSIS OF PLASMA-TREATED GALLIUM-DOPED ZINC OXIDE NANORODS

Popis výsledku anglicky

Correlative Probe Electron Microscopy (CPEM) was used to investigate the topographical and electronic emission properties of gallium-doped zinc oxide nanorods (ZnO:Ga) after low pressure hydrogen or oxygen plasma treatment. Simultaneous secondary electron (SE) and back-scattered electron (BSE) emission information from the same nanorods enabled true correlation with the topographical information obtained by atomic force microscopy (AFM). All nanorods were analyzed in-situ on the same substrate using the same experimental parameters which allowed for accurate comparison. ZnO:Ga nanorods displayed the largest SE emission intensity as well as the greatest BSE emission intensity. Hydrogen plasma treatment reduced both SE and BSE emission intensity, whereas oxygen plasma treatment only reduced SE emission. These effects may help elucidate various optical as well as biological interactions of ZnO:Ga nanorods.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

—

OECD FORD obor

20501 - Materials engineering

Projekt

Výsledek vznikl pri realizaci vícero projektů. Více informací v záložce Projekty.

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2024

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

NANOCON 2023 Conference Proceedings

ISBN

978-80-88365-15-0

ISSN

2694-930X

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

7

Strana od-do

353-359

Název nakladatele

TANGER

Místo vydání

Ostrava

Místo konání akce

Brno

Datum konání akce

18. 10. 2023

Typ akce podle státní příslušnosti

WRD - Celosvětová akce

Kód UT WoS článku

001234125400056