Plasmonic edge in graphene on hexagonal boron nitride flakes: AFM-in-SEM analysis of enhanced electron emission

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F24%3A00380029" target="_blank" >RIV/68407700:21230/24:00380029 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

<a href="https://doi.org/10.5281/zenodo.14735335" target="_blank" >https://doi.org/10.5281/zenodo.14735335</a>

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Plasmonic edge in graphene on hexagonal boron nitride flakes: AFM-in-SEM analysis of enhanced electron emission

Popis výsledku v původním jazyce

Application note about methodology of AFM-in-SEM microscopy for analysis of enhanced electron emission due to visible frequency plasmonic effect in graphene at the edge of hexagonal boron nitride flakes.

Název v anglickém jazyce

Plasmonic edge in graphene on hexagonal boron nitride flakes: AFM-in-SEM analysis of enhanced electron emission

Popis výsledku anglicky

Application note about methodology of AFM-in-SEM microscopy for analysis of enhanced electron emission due to visible frequency plasmonic effect in graphene at the edge of hexagonal boron nitride flakes.

Druh

O - Ostatní výsledky

CEP obor

—

OECD FORD obor

10302 - Condensed matter physics (including formerly solid state physics, supercond.)

Projekt

<a href="/cs/project/TM03000033" target="_blank" >TM03000033: TACOM - Vývoj korelativního AFM a SEM/AirSEM mikroskopu</a><br>

Návaznosti

P - Projekt vyzkumu a vyvoje financovany z verejnych zdroju (s odkazem do CEP)

Rok uplatnění

2024

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů