Experience of Advanced Methods Based on FFT Test Application

Kód výsledku v IS VaVaI

<a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21230%2F99%3A03018774" target="_blank" >RIV/68407700:21230/99:03018774 - isvavai.cz</a>

Výsledek na webu

—

DOI - Digital Object Identifier

—

Jazyk výsledku

angličtina

Název v původním jazyce

Experience of Advanced Methods Based on FFT Test Application

Popis výsledku v původním jazyce

The methods for testing of ADC dynamic quality (FFT Test, Best Sinusoidal Curve Fit Method, Histogram Test) require a low-distortion testing signal. It brings some problems for testing of high-resolution ADCs. The paper describes an practical experienceusing two alternative methods - the Spectrum Correction Test and the Two-tone method. The systems for an evaluation of both tests were designed and realised. The first experience and achieved results are published in this paper. The experiments have shown, that these methods are usable, but before their application for testing of high resolution ADCs it is necessary to solved several practical problems.

Název v anglickém jazyce

Experience of Advanced Methods Based on FFT Test Application

Popis výsledku anglicky

The methods for testing of ADC dynamic quality (FFT Test, Best Sinusoidal Curve Fit Method, Histogram Test) require a low-distortion testing signal. It brings some problems for testing of high-resolution ADCs. The paper describes an practical experienceusing two alternative methods - the Spectrum Correction Test and the Two-tone method. The systems for an evaluation of both tests were designed and realised. The first experience and achieved results are published in this paper. The experiments have shown, that these methods are usable, but before their application for testing of high resolution ADCs it is necessary to solved several practical problems.

Druh

D - Stať ve sborníku

CEP obor

JA - Elektronika a optoelektronika, elektrotechnika

OECD FORD obor

—

Projekt

—

Návaznosti

Z - Vyzkumny zamer (s odkazem do CEZ)

Rok uplatnění

1999

Kód důvěrnosti údajů

S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Název statě ve sborníku

IWADC'99 - 4th International Workshop on ADC Modelling and Testing

ISBN

—

ISSN

—

e-ISSN

—

Počet stran výsledku

4

Strana od-do

—

Název nakladatele

Laboratoire IXL-ENSERB

Místo vydání

Bordeaux

Místo konání akce

—

Datum konání akce

—

Typ akce podle státní příslušnosti

—

Kód UT WoS článku

—