Vše

Co hledáte?

Vše
Projekty
Výsledky výzkumu
Subjekty

Rychlé hledání

  • Projekty podpořené TA ČR
  • Významné projekty
  • Projekty s nejvyšší státní podporou
  • Aktuálně běžící projekty

Chytré vyhledávání

  • Takto najdu konkrétní +slovo
  • Takto z výsledků -slovo zcela vynechám
  • “Takto můžu najít celou frázi”

Modelováním poruch ke spolehlivým architekturám FPGA

Identifikátory výsledku

  • Kód výsledku v IS VaVaI

    <a href="https://www.isvavai.cz/riv?ss=detail&h=RIV%2F68407700%3A21240%2F13%3A00207813" target="_blank" >RIV/68407700:21240/13:00207813 - isvavai.cz</a>

  • Výsledek na webu

  • DOI - Digital Object Identifier

Alternativní jazyky

  • Jazyk výsledku

    angličtina

  • Název v původním jazyce

    Modelováním poruch ke spolehlivým architekturám FPGA

  • Popis výsledku v původním jazyce

    Zařízení na bázi obvodů FPGA jsou stále častěji používána v aplikacích, které vyžadují vysokou úroveň spolehlivosti. Obvody FPGA jsou ale většinou založeny na technologii CMOS využívající paměťové buňky SRAM, které jsou náchylné k poruchám prostředí umožňujícího modelovat chování vybraného obvodu FPGA vystavenému ionizujícímu záření. Toto stimulační prostředí je založeno na akademickém souboru programů VTR a chování modelu je kalibrováno výsledky radiačních testů prováděných na reálných obvodech FPGA. Navržené simulační prostředí je možné využívat k vyhodnocování dopadu různých spolehlivostních metod na chování obvodů, ale také k navrhování změn v samotných architekturách FPGA.

  • Název v anglickém jazyce

    Modelováním poruch ke spolehlivým architekturám FPGA

  • Popis výsledku anglicky

    Zařízení na bázi obvodů FPGA jsou stále častěji používána v aplikacích, které vyžadují vysokou úroveň spolehlivosti. Obvody FPGA jsou ale většinou založeny na technologii CMOS využívající paměťové buňky SRAM, které jsou náchylné k poruchám prostředí umožňujícího modelovat chování vybraného obvodu FPGA vystavenému ionizujícímu záření. Toto stimulační prostředí je založeno na akademickém souboru programů VTR a chování modelu je kalibrováno výsledky radiačních testů prováděných na reálných obvodech FPGA. Navržené simulační prostředí je možné využívat k vyhodnocování dopadu různých spolehlivostních metod na chování obvodů, ale také k navrhování změn v samotných architekturách FPGA.

Klasifikace

  • Druh

    D - Stať ve sborníku

  • CEP obor

    JC - Počítačový hardware a software

  • OECD FORD obor

Návaznosti výsledku

  • Projekt

  • Návaznosti

    I - Institucionalni podpora na dlouhodoby koncepcni rozvoj vyzkumne organizace

Ostatní

  • Rok uplatnění

    2013

  • Kód důvěrnosti údajů

    S - Úplné a pravdivé údaje o projektu nepodléhají ochraně podle zvláštních právních předpisů

Údaje specifické pro druh výsledku

  • Název statě ve sborníku

    Počítačové architektury a diagnostika - PAD 2013

  • ISBN

    978-80-261-0270-0

  • ISSN

  • e-ISSN

  • Počet stran výsledku

    6

  • Strana od-do

    117-122

  • Název nakladatele

    Západočeská universita, Fakulta aplikovaných věd

  • Místo vydání

    Plzeň

  • Místo konání akce

    Teplá

  • Datum konání akce

    9. 9. 2013

  • Typ akce podle státní příslušnosti

    EUR - Evropská akce

  • Kód UT WoS článku